产品名称:COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
产品型号:COSMOS-2X
产品类别:厚度检测类试验设备
产品简介:COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。
COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪-科迪仪器专业销售!
COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪技术参数:
1. X线源:油浸式由上而下垂直照射方式。
2. 检出器:比例计数管。
3. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。
4. 准直仪:采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。
5. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。
6. 多能谱分析器:256高频分析器,光谱自动分析。
7. 测量项目:单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
8. 测量范围:原子序22 ~ 82 ,最小量测值0.05um.
9. 测量机能:同一点重复测定机能,输出形式设定,能谱测定.
10. 底材补正功能:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。
11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
12. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.
13. 测量部主机尺寸:362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
14. 测量台尺寸尺寸:170 (W) ×100 (D) ㎜
15. 移动量(X-Y-Z轴):70 ×70 ×80 ㎜.
16. 使用电源:电压: AC100V/220V ±10V ; 50/60Hz
2. 检出器:比例计数管。
3. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。
4. 准直仪:采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。
5. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。
6. 多能谱分析器:256高频分析器,光谱自动分析。
7. 测量项目:单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
8. 测量范围:原子序22 ~ 82 ,最小量测值0.05um.
9. 测量机能:同一点重复测定机能,输出形式设定,能谱测定.
10. 底材补正功能:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。
11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
12. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.
13. 测量部主机尺寸:362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
14. 测量台尺寸尺寸:170 (W) ×100 (D) ㎜
15. 移动量(X-Y-Z轴):70 ×70 ×80 ㎜.
16. 使用电源:电压: AC100V/220V ±10V ; 50/60Hz
COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪适合行业:IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。