电解式膜厚计的技术参数

电解式膜厚计可测镀层：金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、双重镍 、三重镍、黑铬、锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金等。可选用线材测试器（WT），检测线形、圆柱形及微小部品。主要适用于镀层厚度较厚（大于30um）的样品，检测值更精准。
 
 电解式膜厚计技术参数：
1. 检测范围：0.006～300um。
2. 解析度：0.001um。 3. 检测面积：
3.4 , 2.4 , 1.7∮㎜
4. 检测速度：250nm/s、125nm/s、50nm/s、25nm/s、12.5nm/s、5nm/s、2.5nm/s、1.25nm/s。
 
科迪仪器专业生产：ETC-083超声波测厚仪、GCT-311计算机型电解式膜厚计、CT-3普及型电解式膜厚计、COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪、EX-3000荧光X射线测厚仪、Ct-4电解式膜厚计、TR200表面粗糙度仪、CMI900电镀层测厚仪|CMI900镀金测厚仪|CMI900镀镍测厚仪等
 

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